塗膜厚測定記録集計システム「ARCH」
塗膜厚測定記録集計システム「ARCH」の特徴
■測定値を入力する事（4ポイント切替可）で、以降の計～平均値及び標準偏差を集計し、度数分布・ヒストグラム（幅の設定可）を自動作成します。
■平均値･最小値･標準偏差を自動チェックします（各基準値の%変更可）
■測定時点の階層は15工程（名称変更可）可能で、膜厚は各工程と合計の切替が可能です。
■測定値を入力する事（4ポイント切替可）で、以降の計～平均値及び標準偏差を集計し、度数分布・ヒストグラム（幅の設定可）を自動作成します。
■平均値･最小値･標準偏差を自動チェックします（各基準値の%変更可）
■測定時点の階層は15工程（名称変更可）可能で、膜厚は各工程と合計の切替が可能です。